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发布时间：2026-03-12 11:11:48

文章来源：微扑克电子

　　半导体电子◈◈✿！wepoker客服◈◈✿。wepoker下载◈◈✿。在上周落幕的Vision China（上海）机器视觉展上◈◈✿，埃科光电SG系列线光谱共焦传感器以亚微米级精度◈◈✿、高速在线检测与无接触成像能力◈◈✿，攻克微小缺陷识别及复杂表面适配等难题◈◈✿，直击半导体制造核心检测场景◈◈✿，成为展会焦点◈◈✿，吸引众多行业专家驻足交流◈◈✿。

　　埃科SG系列线光谱共焦传感器横向分辨率高◈◈✿，能够捕捉到晶圆细微特征及缺陷◈◈✿；最高扫描速率达到40kHz◈◈✿，满足半导体行业高速在线检测节拍川村千里◈◈✿。

　　SG1007基于同轴式光谱共聚焦技术开发而成德州透视挂◈◈✿，最大镜面兼容角度±50°川村千里川村千里◈◈✿，X方向分辨率1.875 m◈◈✿，轴向重复性精度达50nm德州透视挂◈◈✿，可实现球高◈◈✿、球径无遮挡高精度测量◈◈✿，全量程范围内扫描速率可达到8.9kHz◈◈✿，一定测量范围内可实现40kHz高速扫描◈◈✿，高效应对BGA锡球检测◈◈✿。

　　在半导体后道封装工序中◈◈✿，引线键合通过微米级金属导线（通常为金线◈◈✿、铜线等）实现芯片内外部的电气互连◈◈✿。

　　（1）随着半导体工艺的发展◈◈✿，金线间距德州透视挂◈◈✿、线径均为数十微米◈◈✿，塌线◈◈✿、断线等缺陷需要微米级的高分辨率成像实现捕捉◈◈✿。（2）金线表面存在高反光干扰◈◈✿，且键合后焊盘表面可能存在残胶等异物◈◈✿，传统光学传感器对这类材质难以准确成像德州透视挂◈◈✿。

　　SG4025凭借X方向2.5 m的高分辨率川村千里◈◈✿，实现对高密度细微金线mm的测量范围可检测金线高度◈◈✿；同时川村千里◈◈✿，线光谱共焦技术无惧金线表面高反光影响德州透视挂◈◈✿，具有强材质适应性◈◈✿，解决了传统成像难点德州透视挂◈◈✿。

　　埃科SG系列线光谱共焦传感器不受材质川村千里◈◈✿、形状和反光的影响◈◈✿，对于深孔◈◈✿、缝隙◈◈✿、弯曲◈◈✿、透明等多种形貌或材质的表面测量有着高度的适应性◈◈✿，全量程都可保持高精度及高横向分辨率川村千里德州透视挂◈◈✿，助力半导体◈◈✿、消费电子◈◈✿、PCB等多个精密制造行业实现更高效川村千里◈◈✿、准确的自动检测◈◈✿。